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單點開爾文探針-材料表征

簡要描述：單點開爾文探針-材料表征
開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測試系統(tǒng)。

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更新時間：2025-02-27
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半導體材料表征

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品牌	KP TECHNOLOGY	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應用領(lǐng)域	能源,電子,電氣,綜合

單點開爾文探針-材料表征

單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測試系統(tǒng)。

單點開爾文探針-材料表征

主要特點：
● 功函分辨率< 3meV
● 手動高度調(diào)節(jié)
應用領(lǐng)域：
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件：
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針，直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱

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