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KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

超高真空開爾文探針-材料表征 開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，

氣氛可控開爾文探針-材料表征 氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測(cè)樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用先進(jìn)的電子和硬件系統(tǒng)即時(shí)監(jiān)測(cè)控制溫度和濕度變化，附加表面光

單點(diǎn)開爾文探針-材料表征 開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

皮可安培計(jì)-材料表征 技術(shù)參數(shù)： 接口 輸入: BNC; 模擬輸出: Banana jacks 偏壓選項(xiàng)： 無偏壓/ 內(nèi)置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏壓 （BNC）

開爾文探針系統(tǒng)-半導(dǎo)體表征 開爾文探針系統(tǒng)材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開爾文探針是一種較靈敏的表面分析技術(shù)。

皮可安培計(jì)（USB接口）-材料表征 技術(shù)參數(shù)： 接口 輸入: BNC; 模擬輸出 偏壓選項(xiàng)： 無偏壓/ 內(nèi)置偏壓 （± 90 V DC）/ 外置偏壓 （BNC）

俄歇電子能譜儀（在線表面分析）-材料表征 The microCMA is a compact （2.75“ CF mount） cylindrical mirror type Auger （AES, Auger Electron Spectroscopy） analyzer.